BS ISO 13292-2008 铜、铅、锌和镍精矿.取样偏差检验用实验方法

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标准名称：	电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＴ５４４２／ＣＴ７４４２型４线－１０线译码器（ＢＣＤ输入）
英文名称：	Detail specification for electronic components-Semiconductor integrated circuits-CT5442/CT7442 4-line to 10-line decoder (with BCD-in)
中标分类：	化工 >> 化工综合 >> 技术管理
发布日期：	1991-04-08
实施日期：	1991-07-01
首发日期：	1900-01-01
作废日期：	2010-01-20
出版日期：	1900-01-01
页数：	14页

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【英文标准名称】:TestMethodforThicknessofLightlyDopedSiliconEpitaxialLayersonHeavilyDopedSiliconSubstratesUsinganInfraredDispersiveSpectrophotometer
【原文标准名称】:用红外线反射法测定同类基质上硅的外延层厚度的试验方法
【标准号】:ASTMF95-1989
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1989
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:硅;分光光度计;电子工程;厚度;层;红外线;试验;衬底(绝缘)
【英文主题词】:thickness;infra-red;testing;electronicengineering;substrates(insulating);spectrophotometer;layers;silicon
【摘要】:
【中国标准分类号】:H80
【国际标准分类号】:29_040_30
【页数】:7P;A4
【正文语种】:英语