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DIN 45923-114-1982 电子元件质量评定协调体系.详细规范.主要用于电话机的低压变阻器.一侧引出接头线的片状结构.0·1W涂漆保护(质量评定等级P)

作者:标准资料网 时间:2024-05-05 17:12:01  浏览:9940   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Harmonizedsystemofqualityassessmentforelectroniccomponents;detailspecification:lowvoltagevaristorsprimarilyfortelephonyapplications;disctype,withunidiretionalwireterminations:protected0,1W:assessmentlevelP
【原文标准名称】:电子元件质量评定协调体系.详细规范.主要用于电话机的低压变阻器.一侧引出接头线的片状结构.0·1W涂漆保护(质量评定等级P)
【标准号】:DIN45923-114-1982
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1982-08
【实施或试行日期】:1982-08
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:低电压;电子工程;电阻器;元部件;电气工程;电子学;规范(审批);压敏电阻器;质量;尺寸
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:K32
【国际标准分类号】:31_040_20
【页数】:9P;A4
【正文语种】:德语


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基本信息
标准名称:出口甜叶菊糖甙的检验方法
替代情况:SN 3901-87
发布日期:
实施日期:1991-07-01
首发日期:
作废日期:
出版日期:
适用范围

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前言

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目录

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引用标准

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所属分类: 农业 林业 经济作物 其他经济作物
基本信息
标准名称:用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法
英文名称:STANDARD test method for net carrier density in silicon epitaxial layers by voltage-capacitance of gated and ungated diodes
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 半导体分立器件 >> 半导体二极管
ICS分类:
发布部门:国家技术监督局
发布日期:1993-01-02
实施日期:1994-10-01
首发日期:1993-12-30
作废日期:1900-01-01
主管部门:信息产业部(电子)
归口单位:信息产业部(电子)
起草单位:机械电子工业部所和所
出版社:中国标准出版社
出版日期:1900-01-01
页数:平装16开, 页数:12, 字数:19千字
适用范围

本标准规定了用栅控和非栅控二极管的电压电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的原理、仪器与材料、样品制备、测量步骤和数据处理。本标准适用于外延层厚度不小于某一最小厚度值(见附录B)的相同或相反导电类型衬底上的n型或p型外延层,也适用于体材料。

前言

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引用标准

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所属分类: 电子元器件与信息技术 半导体分立器件 半导体二极管

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